PENENTUAN KONSTANTA OPTIK FILM POL(3-METILTOFEN) DENGAN METODA ELLIPSOMETRI

Ellipsometri adalah suatu cara optik yang digunakan untuk menganalisa berbagai siifat fisis pada suatu daerah antarmuka antara dua medium (zat antara). Cara ini didasarkan pada perubahan keadaan polarisasi yang terjadi bila sebuah berkas cahaya terpolarisasi dipantulkan, diteruskan atau dihamburkan oleh sebuah anntarmuka atau suatu lapisan tipis (film). Metoda ellipsometri mengukur perbandingan amplitudo dan beda fase komponen vektor gelombang elektromagnetik/cahaya yang sejajar dengan bidang datang (p) dengan komponen yang tegak lurus bidang datang (s). Ellipsometer yang digunakan menganalisa polarisasi cahaya yang dipantulkan oleh bahan disebut Ellisometer Refleksi dan yang menganalisa polarisasi cahaya yang diteruskan (transmisi) disebut Ellipsometer transmisi. Allipsometer 1.115A merupakan ellipsometer refleksi.